干涉仪广泛用于各种高空间分辨率成像技术，以扩展衍射极限。然而，传统的干涉测量方法仅在光子具有相同波长时才起作用。

中国科学院中国科技大学(USTC)的研究人员利用周期性极化的铌酸锂波导(PPLN)搭建了一个色度强度干涉仪，并成功测量了两个距离非常近的不同波长的激光源。这项工作发表在《物理评论快报》上。

2016年，诺贝尔奖获得者弗兰克·维尔切克(Frank Wilczek)和他的同事们从理论上提出，通过引入颜色擦除检测器，不同波长的光子可以进入检测器进行干涉并提取相位信息，该检测器是基于频率转换成强度干涉仪. 这种新技术后来被命名为色强度干涉测量法。

随后，潘建伟教授课题组利用济南量子技术研究所研制的PPLN波导构建了单光子探测器。基于此，他们在实验室中展示了强度干涉技术。

为了验证色强度干涉测量的高空间分辨率成像，研究人员进行了一系列现场实验。通过使用两个不同波长(分别为 1063.6 nm 和 1064.4 nm)的泵浦激光器泵浦一对平行的 PPLN 波导，他们实现了无法区分 1063.6 nm 和 1064.4 nm 光子的颜色擦除检测器。

有了这两个探测器，他们安装了两个望远镜，搭建了一个基线长度为 80 厘米的强度干涉仪。在用望远镜测量了相距 1.43 公里处相距 4.2 毫米的两个激光源之间的距离后，他们提出了一种相位拟合方法来获得两个激光源之间的角距离。令人惊讶的是，结果超过了单台望远镜的衍射极限约 40 倍，证明色强度干涉测量具有更高的空间分辨率。

通过多波长设置，该技术将强度干涉测量法的应用扩展到天文观测、空间遥感和空间碎片检测等不同领域。